মঙ্গলবার, ২৩ জুলাই, ২০২৪, ঢাকা

প্রাথমিকে নিয়োগ পরীক্ষায় ডিভাইস শনাক্ত পদ্ধতিতে সফলতা দেখছে মন্ত্রণালয়

জ্যেষ্ঠ প্রতিবেদক
প্রকাশিত: ২৯ মার্চ ২০২৪, ০২:৪১ পিএম

শেয়ার করুন:

প্রাথমিকে নিয়োগ পরীক্ষায় ডিভাইস শনাক্ত পদ্ধতিতে সফলতা দেখছে মন্ত্রণালয়

সরকারি প্রাথমিক বিদ্যালয়ে সহকারী শিক্ষক নিয়োগে লিখিত পরীক্ষায় ডিজিটাল ডিভাইস ব্যবহারের মাধ্যমে জালিয়াতি রোধে বুয়েট কর্তৃক উদ্ভাবিত ডিভাইস শনাক্তকরণ সিস্টেমের কার্যকর প্রয়োগের ফলে অসদুপায় অবলম্বন প্রায় শূন্যের কোটায় নেমে এসেছে।

শুক্রবার (২৯ মার্চ) ৩য় ধাপে ঢাকা ও চট্টগ্রাম বিভাগে অনুষ্ঠিত পরীক্ষায় এর সুফল দেখা গেছে।


বিজ্ঞাপন


প্রাথমিক ও গণশিক্ষা মন্ত্রণালয়ের সচিব ফরিদ আহাম্মদ জানান, ১ম ধাপের পরীক্ষায় কিছু ক্ষেত্রে অসদুপায় অবলম্বনের চেষ্টা নজরে আসায় মন্ত্রণালয় এ ধরণের অপপ্রয়াস রোধকল্পে কঠোর পদক্ষেপ গ্রহণ করে। ফলে ২য় ধাপের পরীক্ষায় এ ধরণের অভিযোগ খুব স্বল্প পরিমাণে এসেছে। তৃতীয় ধাপের পরীক্ষায় এ ধরণের অভিযোগ যাতে না ওঠে সেজন্য কার্যকর পন্থা খুঁজে বের করতে বুয়েটের আইআইসিটি বিভাগের অধ্যাপক ড. এস এম লুত্ফুল কবিরকে দায়িত্ব প্রদান করা হয়েছে।

প্রাথমিক শিক্ষা সচিব বলেন, বুয়েট ইনোভেশন টিম স্বল্প সময়ে ডিজিটাল ডিভাইসের মাধ্যমে অসদুপায় অবলম্বন সনাক্তকরণে সহজ ও কার্যকর সিস্টেম উদ্ভাবন করে। এতে মন্ত্রণালয় আর্থিক সহযোগিতা প্রদান করে। আজকের লিখিত পরীক্ষায় ঢাকা ও চট্টগ্রাম বিভাগের ৫ জেলায় এ সিস্টেমের সহজ ও কার্যকর ব্যবহার নিশ্চিত হয়েছে।

ফরিদ আহাম্মদ বলেন, সহকারী শিক্ষক নিয়োগ পরীক্ষার এ অভিজ্ঞতা কাজে লাগিয়ে সব ধরণের প্রতিযোগিতামূলক পরীক্ষায় এ ধরণের সিস্টেম চালু করা গেলে ডিভাইসমুক্ত পরিবেশে পরীক্ষা গ্রহণ সম্ভব হবে। তখন কেউ পরীক্ষা নিয়ে কোন অভিযোগ তোলার সুযোগ পাবে না।

উল্লেখ্য, শুক্রবার (২৯ মার্চ) সহকারী শিক্ষক নিয়োগে পরীক্ষা-২০২৩ এর ৩য় ও শেষ ধাপের লিখিত পরীক্ষা ঢাকা ও চট্টগ্রাম বিভাগে (৩টি পার্বত্য জেলা ব্যতীত) অনুষ্ঠিত হয়। এ পর্বের পরীক্ষার্থীর সংখ্যা ৩ লাখ ৪৯ হাজার ২ শত ৯৩ জন।


বিজ্ঞাপন


বিইউ/এমএইচটি

ঢাকা মেইলের খবর পেতে গুগল নিউজ চ্যানেল ফলো করুন

সর্বশেষ
জনপ্রিয়

সব খবর